XRD: estructura cristalina con máxima precisión

La difracción de rayos X (XRD) se basa en la interacción de un haz de rayos X con la red cristalina de un material. Al incidir sobre el sólido, los rayos X son dispersados en ángulos específicos que obedecen a la ley de Bragg, generando un patrón único que funciona como una “huella digital” de la estructura cristalina. Este patrón permite identificar y cuantificar fases minerales, estudiar transformaciones estructurales, calcular parámetros de celda unitaria y determinar el grado de cristalinidad o tensión interna de los materiales. La XRD es una herramienta fundamental en la minería y metalurgia (caracterización de menas y control de fases en aceros y aleaciones), en la energía y petroquímica (análisis de catalizadores, arcillas y combustibles sólidos), en la industria cerámica, cementera y del vidrio (control de materias primas y fases de producción), así como en la farmacéutica y de materiales avanzados (determinación de polimorfismos, estudios de pureza y desarrollo de nuevos compuestos). Reconocida por su precisión, reproducibilidad y profundidad analítica, la XRD es indispensable en investigación científica, control de calidad y procesos industriales donde comprender la estructura cristalina resulta clave para garantizar desempeño y confiabilidad.