ARL X'tra Companion
Difractómetro de rayos X de sobremesa (XRD)
El ARL™ X'TRA Companion es un difractómetro de rayos X de sobremesa, compacto y robusto, diseñado bajo la geometría θ/θ Bragg-Brentano.
Combina facilidad de uso, seguridad y precisión con tecnología de última generación, ofreciendo un rendimiento de nivel industrial en un formato accesible y de bajo mantenimiento.
Gracias a su detector sólido 2D de alta resolución, permite obtener datos cristalográficos confiables en pocos minutos, con capacidades avanzadas de análisis y transmisión automática de resultados a sistemas LIMS.
Es la solución ideal para laboratorios de control de calidad y aseguramiento de calidad (QA/QC), así como para aplicaciones académicas y de investigación aplicada.
Sectores a los que aplica
Alta resolución y rapidez: datos cristalográficos de calidad en minutos gracias al detector sólido de última generación.
Rentable y compacto: solución económica y de sobremesa para laboratorios industriales y académicos.
Facilidad de uso: configuración sencilla, interfaz intuitiva y análisis con un solo clic (Rietveld quantification).
Automatización: integración con portamuestras de 1 o 6 posiciones y transmisión directa a LIMS.
Versatilidad de análisis: desde control de calidad rutinario hasta caracterizaciones estructurales avanzadas.
Cumplimiento normativo: diseñado bajo estándares internacionales de seguridad en rayos X.
Instalación flexible: se adapta a diferentes entornos de laboratorio.
Tipo de sistema: Difractómetro de sobremesa (XRD).
Geometría: θ/θ Bragg-Brentano.
Goniómetro: con motores paso a paso y encoders ópticos.
Óptica de haz: colimación mediante ranuras mecánicas, Soller Slits y cuchilla de haz variable.
Detector: sólido de última generación (pitch 55×55 μm) para recolección rápida y precisa.
Configuración de muestras:
Portamuestras de 1 posición.
Opción de cambiador automático de 6 posiciones.
Fuente de rayos X: tubos con ánodo de Cu o Co.
Refrigeración opcional: sistema integrado de agua.
Software de análisis:
Cuantificación Rietveld de un clic.
Transmisión automática de resultados a LIMS.
Tratamiento de datos y aplicaciones:
Análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas.
Cálculo de grado de cristalinidad.
Screening de polimorfos.
Parámetros de celda, tamaño de cristalita y microdeformación.
Refinamiento Rietveld para caracterización estructural.
Dale play y conoce más
